- > מיקרוסקופ מבוסס מסך
- > מיקרוסקופים הפוכים וישרים
- > סטריאוסקופים ומערכות זום
- > מערכות אוטומטיות בשיטות הדמייה מתקדמות
- > פתרונות מתקדמים לתעשייה
- > מערכות לייזר Microdissection
- > מערכות מיקרוסקופיה קונפוקאלית
- > מיקרוסקופיה אלקטרונית
- > מערכות ציפוי
- > מיקרוסקופ X-Ray ו- microCT
- > תוכנות
- > מערכות מיקרוסקופיה דיגיטאלית למחקר ולפתולוגיה
- > פילטרים ועזרים למיקרוסקופיה
- > אביזרים נילווים למיקרוסקופים
- > מכשור עזר מיקרוסקופיה
מיקרוסקופיה אלקטרונית
מערכות SEM/HR-SEM מבוססות טכנולוגית ה Gemini הייחודית של Carl Zeiss (צייס מיקרוסקופים / צייס ישראל) מאפשרות הדמיה גבוהה ושילוב מערכות אנליזה, EDX, WDS, EBSD במכשירים פשוטים לתפעול והפעלה גם בסביבה מרובת משתמשים.
CrossBeam- מערכת Focused Ion-Beam למניפולציה תת מיקרונית של דגמים, בשילוב מערכת ההדמיה של קולונת ה Gemini. למחקר מדעי החומר, תעשיית המוליכים למחצה Semiconductors , ומחקר מדעי החיים.
STM, FE-SEM, Ion-Beam Microscopy, Helium Ion microscopy, Cryo Microscopy SEM.
